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Rasterelektronenmikroskopie (REM) und Mikroanalytik (EDX)

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Kompetenz in REM-Analysen und EDX

Möchten Sie Partikel und Schichtsysteme mit Methoden der Mikroanalytik überprüfen? Benötigen Sie rasterelektronenmikroskopische Analysen von Oberflächen? Sie suchen einen Partner für die Analyse von Verschleißzuständen oder Brüchen? Oder müssen Sie Probleme mit Methoden der Rasterelektronenmikroskopie lösen?

Die Fachleute und Ingenieure unseres W.S. MaterialtestCenters unterstützen Sie mit der Rasterelektronenmikroskopie und Mikroanalytik.

Folgende Dienstleistungen bieten wir in der Rasterelektronenmikroskopie an:

  • Oberflächenanalysen und Topographie-Untersuchungen
  • Schichtanalysen und Partikeluntersuchungen (Form, Größe, Zusammensetzung)
  • Fraktographische Analysen und Bruchflächenuntersuchungen
  • Mikroanalytik mit EDX (z. B. Phasen-/Element-Mappings und Element-Linienscans)
  • Untersuchung nichtleitender Proben im Niedrigvakuum

Informationen und Beratung

Sie stehen vor einer werkstofftechnischen Fragestellung? Müssen Materialien identifiziert, Auffälligkeiten bewertet oder Schadensursachen zuverlässig analysiert werden?

Die Experten unseres W.S. MaterialtestCenters unterstützen Sie mit akkreditierten Prüfleistungen – von der Materialanalyse über die mechanisch-technologische Prüfung bis hin zur zerstörungsfreien Werkstoffprüfung.

Sie haben eine konkrete Herausforderung? Sprechen Sie uns an – wir finden die passende Prüflösung für Ihre Fragestellung.

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