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Analysen am Rasterelektronenmikroskop (REM / SEM)

Prüfverfahren in der Werkstoffprüfung (ZP)

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Oberflächen und Strukturen hochauflösend analysieren

Das Rasterelektronenmikroskop liefert hochauflösende Abbildungen und analytische Daten, die weit unterhalb der Auflösungsgrenze herkömmlicher Lichtmikroskopie liegen.

In Kombination mit der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX) lassen sich neben Morphologie und Topographie auch die lokale Elementzusammensetzung präzise bestimmen.

Mögliche Einsatzgebiete sind Schadensanalysen (z. B. Bruchflächenuntersuchung, Korrosionserscheinungen), Gefügecharakterisierung, Partikelanalyse sowie die Untersuchung von Beschichtungen und Grenzflächen.

REM-Analyse mit EDX-Auswertung
DAkkS-akkreditierte Prüfleistungen
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Wie funktioniert die Analyse am Rasterelektronenmikroskop?

Bei Analysen am Rasterelektronenmikroskop untersucht W.S. Werkstoff Service Proben mit einem fein gebündelten Elektronenstrahl. Die Oberfläche wird zeilenweise abgetastet, wodurch hochauflösende Bilder entstehen. So lassen sich Bruchflächen, Partikel, Beschichtungen, Gefügebestandteile oder Grenzflächen detailliert beurteilen. In Kombination mit EDX können lokale Elementzusammensetzungen bestimmt werden. Dafür werden charakteristische Röntgensignale ausgewertet, die durch den Elektronenstrahl entstehen. Die Ergebnisse unterstützen Schadensanalysen, Materialbewertungen und Qualitätskontrollen und werden nachvollziehbar dokumentiert.

Weitere Fragen & Antworten

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