(SemMU Modul 2) Seminar Messunsicherheiten und POD in der zerstörungsfreien Prüfung

(SemMU Modul 2) Messunsicherheiten und POD in der zerstörungsfreien Prüfung –
Messunsicherheiten verstehen und berechnen, Prüfprozesse mit MU-Budgets optimieren, Prüfsysteme mit POD richtig bewerten.
 

Warum lohnt sich die Teilnahme am Seminar?
Messunsicherheiten (MU) und Probability of Detection (POD, Detektionswahrscheinlichkeit) sind wichtige Konzepte für die Bewertung von Prüfverfahren und Prüfergebnissen, für die Qualitätskontrolle und für Konformitätsentscheidungen. Sie haben nicht nur technische, sondern auch wirtschaftliche und ggf. juristische Bedeutung.
Das Seminar vermittelt umfassende Kenntnisse und Vorgehensweisen für die Bewertung von Prüfergebnissen und die Berechnung von Messunsicherheiten für zerstörungsfreie Prüfverfahren. Die vorgestellten MU- und POD-Konzepte und Werkzeuge sind auch auf andere als die im Seminar besprochenen Prüfmethoden anwendbar.
Die im Seminar benutzten elektronischen Unterlagen (Excel) für die MU-Berechnung stehen den Teilnehmern für die Verwendung über das Seminar hinaus zur Verfügung.

Tag 1 (08:30 – 17:45):

1. Einführung in die Messunsicherheiten (MU) – Begriffe, Konzepte, normative Grundlagen
2. Mathematische Grundlagen der MU – Fehler und Fehlerfortpflanzung, absolute und relative Fehler
3. Mathematische Grundlagen der MU – Empfindlichkeitsfaktoren, kombinierte und erweiterte Messunsicherheit 
4. Statistische Grundlagen der MU – Grundgesamtheit und Stichproben, wahrer Wert, Mittelwert, Standardabweichung
5. Statistische Grundlagen der MU – Wahrscheinlichkeitsverteilungen, Vertrauensniveau, Vertrauensintervall
6. Einführung in die Berechnung von MU – Vorgehensweisen nach GUM, MU-Budgets
    

Tag 2 (08:30 – 16:30):

1. Messunsicherheiten (MU) der Ultraschallprüfung (UT-Fehlerprüfung) – Verfahrensgrundlagen und Bestimmung der MU-Komponenten
2. MU der Ultraschallprüfung (UT-Dickenmessung) – Verfahrensgrundlagen und Bestimmung der MU-Komponenten
3. Messunsicherheiten der Oberflächenrissprüfung (PT, MT) – Verfahrensgrundlagen und Bestimmung der MU-Komponenten 
4. Anwendung von POD-Kurven (Probability of Detection) in der zerstörungsfreien Prüfung
5. Erstellung und Interpretation von POD-Kurven nach der Fehlergröße-Signalhöhen-Methode
6. Erstellung und Interpretation von POD-Kurven nach der Hit-Miss-Methode
    

Wer sollte am Seminar teilnehmen?

• Mitarbeiter von Werkstoffprüflaboren und Kalibrierlaboren
• ZfP-Prüfaufsichten aus Produktionsbetrieben und von Prüfdienstleistern
• Beratende Ingenieure und Sachverständige
• Auditoren/Begutachter von Zertifizierungsstellen und Inspektionsstellen
• Verantwortliche für die Qualitätssicherung
• Hersteller von Mess- und Prüfgeräten
• Fachleute aus Forschung und Entwicklung

 
Was wird im Seminar vermittelt?

• Kenntnisse zu den mathematischen und statistischen Grundlagen der Messunsicherheiten (MU)
• Vertiefte Kenntnisse über Entstehung und Identifizierung von MU-Komponenten
• Detaillierte Verfahrensanleitungen für die Berechnung von MU und MU-Budgets
• Ermittlung von MU für zerstörungsfreie Prüfverfahren (ZfP)
• Entscheidungshilfen über die Annahme oder Ablehnung von Produkten auf der Basis von MU
• Leitlinien für die Optimierung von Prüfprozessen durch Anwendung von MU-Budgets
• Knowhow für die Erstellung und Interpretation von POD-Kurven für ZfP-Verfahren
• Überblick über relevante Regelwerke und Normen
   
   

Sofern Sie uns frühzeitig Bescheid geben, können wir ggf. auf individuelle Wünsche eingehen, und sie evtl. ins Seminar integrieren. Ein Modul besteht aus jeweils aus 2 Seminartagen. Sie haben aber die Möglichkeit individuell Modul- Tage zu kombinieren.
Jedem weiteren Seminarteilnehmer des gleichen Unternehmens, zum selben Seminartermin gewähren wir 10% Rabatt auf die Seminargebühr. 
Bei Fragen zu Inhalten, Voraussetzungen, Organisatorisches, Fördermöglichkeiten, Kosten, oder wenn Sie dieses Seminar als In-House-Schulung oder exklusives Firmen-Seminar buchen möchten, wenden Sie sich bitte an unsere W.S. TrainingCenter Ansprechpartner.

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